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光纤光谱仪

更新:2016/4/20 11:26:51      点击:
  • 产品品牌   Stellarnet
  • 产品型号   
  • 产品描述   薄膜测试系统提供完整的一套膜厚测试系统,可以对单层或多层的5nm-200um的快速测试。这套系统包含便携式光纤光谱仪,反射式探针和光源。...

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产品介绍

描述

薄膜测试系统提供完整的一套膜厚测试系统,可以对单层或多层的5nm-200um的快速测试。这套系统包含便携式光纤光谱仪,反射式探针和光源。通过样品正面反射的正弦条纹图得到反射和膜厚的光学特性,多种可选择模式满足不同的膜厚和光学需求。

ThinFilmCompanion系统特性

实时光谱捕捉和仪器控制(反射和透射测试)

内置大量材料数据

支持多层,单层,粗,厚膜和薄膜结构测试

新材料数据可以轻松添加

实际测试和文件导入

支持复合物材料测试

TF软件

采用用户友好界面软件可以快速测试膜厚和光学常数(n和k值),是复杂的测试变得简单化。这个软件内部包含大量 的材料数据资料,使得的测试范围更广,多层膜,单层膜,粗糙的,薄膜,厚膜等都可以测试,并且新材料的数据也可以随时导入到软件中。

    主要测试过程包含两部分:数据采集和数据分析。TF系统定义了所有测试过程,并且向用户开放,同时用户也可以此 基础来存储数据和后续开发。

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